- 분야
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『공업』
- 「001」공정이 완료된 웨이퍼에서 각각의 소자에 대한 시험 결과를 통계적으로 분석하는 불량 분석 방법. 결과를 공정에 반영하여 결함을 줄이는 데 이용한다.
관련 어휘
- 비슷한말
- 에스디에이(SDA)
대역어
- 영어
- statistical defect analysis
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