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품사
「명사」
분야
『물리』
「001」시료 표면의 삼차원 이미지를 측정하기 위하여 광 집게로 나노 크기의 형광 구슬을 조절한 뒤 현미경을 이용하여 분석하는 방법.

관련 어휘

비슷한말
광자^힘^현미경법(光子힘顯微鏡法)

대역어

영어
photonic force microscope method

어원

PFM: photonic force microscope

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